SALD-7500nano - Fonctionnalités
Analyseur de taille de nanoparticules
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Large gamme de mesures : 7 nm à 800 μm Des particules primaires aux particules sub-visibles et aux contaminants
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Le visage à détection unique capture en continu les images de l'avant et de l'arrière- lumière diffusée jusqu'à un angle de 60
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Élimine l'erreur ou le problème de la sélection des indices de réfraction
Large gamme de mesures : 7 nm à 800 μm Des particules primaires aux particules sub-visibles et aux contaminants
- Les variations de la taille des particules dans la plage de mesure de 7 nm à 800 μm peuvent être mesurées en continu à l'aide d'une seule source lumineuse, d'un seul système optique et d'un seul principe de mesure.
- Comme une particule primaire, un agrégat et un contaminant peuvent être mesurés avec un seul système, les propriétés d'agrégation par une condition de dispersion peuvent être vérifiées.
L'évaluation des caractéristiques de dispersion et d'agrégation des particules est réalisée avec une large gamme de mesures et en temps réel.
Le visage à détection unique capture en continu les images de l'avant et de l'arrière- lumière diffusée jusqu'à un angle de 60
La gamme de tailles de particules cible est couverte de manière transparente en utilisant un seul principe de mesure, un seul système optique et une seule source lumineuse. En outre, comme le SALD-7500nano n'intègre pas de systèmes optiques multiples qui créent des discontinuités dans les données, des mesures précises de la distribution de la taille des particules sont possibles sur l'ensemble de la plage de mesure à l'aide d'un seul étalon. L'application du système optique SLIT*, basé sur une technologie sophistiquée de traçage de l'intensité de la lumière diffusée, bouscule les idées reçues en capturant en continu la lumière diffusée vers l'avant jusqu'à un grand angle de 60° sur une seule face du détecteur. Cela permet d'obtenir une haute résolution dans la région des particules fines.
* SLIT (Trace de l'intensité de la lumière diffusée)
Wing Sensor II haute résolution / haute sensibilité
La lumière diffractée/diffusée vers l'avant est détectée par le "Wing Sensor ll", un capteur à 76 éléments développé à l'aide d'une technologie de fabrication de semi-conducteurs du plus haut niveau. Ce capteur peut détecter la lumière diffusée vers l'avant à petit angle qui fluctue fortement avec un haut niveau de résolution et la lumière diffusée à grand angle d'une faible intensité optique avec un haut niveau de sensibilité. En outre, la lumière diffusée latéralement est détectée par un élément de capteur et la lumière diffusée par l'arrière est détectée par quatre éléments de capteur. La capture précise des modèles de distribution de l'intensité lumineuse avec un total de 81 éléments de capteur permet de mesurer avec une grande résolution et une grande précision la distribution de la taille des particules sur une large gamme de diamètres.
Système optique plus stable
Le cadre d'absorption des chocs omnidirectionnel (OSAF) isole entièrement tous les éléments du système optique des chocs et des vibrations. Il n'y a donc pas de problème de réglage de l'axe optique.
Les fonctions d'autodiagnostic intégrées facilitent la maintenance
Ces analyseurs intègrent de puissantes fonctions d'autodiagnostic. Les signaux de sortie envoyés par les capteurs et les éléments de détection ainsi que l'état de fonctionnement de l'instrument peuvent être vérifiés, ce qui facilite la maintenance. Grâce à la fonction Operation Log, des informations détaillées concernant, par exemple, l'état d'utilisation de l'instrument et la contamination des cellules sont incluses dans toutes les données de mesure, ce qui permet d'examiner la validité des données de mesure obtenues dans le passé.
Méthode de diffraction laser conforme aux normes ISO 13320 et JIS Z 8825-1
Le SALD-7500nano est conforme aux normes ISO 13320 et JIS Z 8825-1 relatives à la diffraction et à la diffusion laser.
Validation possible avec les particules standard JIS
Les performances du système peuvent être confirmées à l'aide d'une particule standard MBP1-10 spécifiée dans la norme JIS Z8900-1. Ces échantillons présentent une large distribution de la taille des particules, ce qui est spécifié par la norme JIS. L'utilisation de ces échantillons permet de vérifier que l'instrument est toujours précis.
Permet de vérifier la validité des résultats des mesures en se référant aux données de distribution de l'intensité lumineuse
Comme les données de distribution de l'intensité lumineuse (données brutes) et les résultats des mesures (données de distribution de la taille des particules) peuvent être affichés sur le même écran, les résultats des mesures peuvent être vérifiés tout en visualisant les deux ensembles de données. Cela permet aux utilisateurs de vérifier si le niveau du signal de détection (concentration de particules) est approprié et de confirmer la validité des résultats des mesures sous de multiples aspects, tels que la largeur de la distribution et la présence d'agrégats et de contaminants.
Large champ d'application
La configuration du système peut être optimisée pour répondre à différents usages, objectifs, objets de mesure, environnements et conditions.
Élimine l'erreur ou le problème de la sélection des indices de réfraction
Fonction de calcul automatique de l'indice de réfraction
La sélection d'un indice de réfraction était une partie inévitable de l'utilisation de la méthode de diffraction laser, où une valeur publiée était généralement saisie, mais ces valeurs n'étaient pas nécessairement appropriées, compte tenu des effets de la composition et de la forme des particules. Par conséquent, des processus fastidieux d'essais et d'erreurs ont été utilisés pour sélectionner les indices de réfraction.
WingSALD II résout ces problèmes en étant le premier logiciel au monde à inclure une fonction qui calcule automatiquement un indice de réfraction approprié basé sur la méthode LDR (reproduction de la distribution de l'intensité lumineuse.
| Remarque: | La méthode LDR calcule automatiquement un indice de réfraction approprié sur la base de la cohérence entre la distribution de l'intensité lumineuse réellement mesurée et celle reproduite (recalculée) à partir des données de distribution de la taille des particules. Cette méthode a été développée par Shimadzu et publiée dans deux documents techniques. Elle est parfois appelée "méthode Kinoshita" dans les milieux universitaires, d'après le nom de l'ingénieur de Shimadzu. |
