Essais de matériaux électronique / semi-conducteurs
Essai, Analyse et Inspection des Électroniques et Semi-conducteurs
Shimadzu fournit une gamme d'instruments analytiques pour aider au développement et à la production de matériaux électroniques avancés et de semi-conducteurs. Le système de tomographie par rayons X non destructif Shimadzu SMX 225CT, le microsonde électronique EPMA 8050G et le microscope à sonde de balayage SPM 8700 sont utilisés dans le monde entier pour imager les matériaux électroniques qui sont critiques pour les industries de l'électronique grand public, des transports et des communications.
Applications Présentées
Solutions pour les Électroniques & les Produits Chimiques
Les analyses inorganiques et organiques sont indispensables pour l'industrie électronique et les industries chimiques connexes. Les objectifs d'analyse sont variés, et les données générées peuvent fournir de nombreuses informations pour la recherche et le développement, la réduction des défauts, la conformité aux réglementations et l'augmentation de la productivité, contribuant ainsi à offrir de meilleurs produits aux consommateurs avec un impact réduit sur notre environnement. Ce manuel d'application est une compilation d'études de cas où les techniques analytiques jouent des rôles critiques dans diverses parties des industries électroniques. Il démontre la gamme de solutions analytiques fournies par Shimadzu, allant d'un simple test d'évaluation à l'utilisation combinée de méthodes analytiques inorganiques et organiques. Nous espérons que vous trouverez la solution qui répond à vos besoins.
Test de Flexion à 3 Points de Puces Silicium (Die)
Avant de mesurer les propriétés de durée de vie, il est également important de mesurer la distribution de la taille des particules du matériau additif, ce qui peut être mesuré avec le SALD-2300. Les mesures se font dans une plage de 17 nm à 2500 µm. Avec l'essor de la fabrication additive basée sur les poudres métalliques et son acceptation pour des applications critiques, il est devenu important de comprendre le comportement des matières premières utilisées dans différentes techniques de fabrication additive.
Analyse de Dégradation UV des Matériaux pour Modules de Panneaux Solaires à l'Aide de GC/MS et FTIR
Cet article présente trois analyses exemples : l'analyse d'un film EVA soumis à une irradiation UV intense à l'aide d'un système UV (ultraviolet) -Py (pyrolyse à double tir) / GC-MS (spectromètre de masse à chromatographie en phase gazeuse), l'analyse des gaz évolués par spectrométrie de masse (EGA-MS) du film EVA qui a été dégradé par irradiation UV de la même manière que ci-dessus, et l'analyse de celui-ci à l'aide d'un spectrophotomètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR).